CMI900 X射線熒光測厚儀

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產(chǎn)品詳情

CMI900/950系列X射線熒光測厚儀
Advanced Materials Analysis Instrument

CMI900/950系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器,可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領(lǐng)域,為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準確、快速的分析。基于Windows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版SmartLink FP應(yīng)用軟件包,實現(xiàn)了對CMI900/950主機的全面自動化控制,分析中不需要任何手動調(diào)整或手動參數(shù)設(shè)定。
可同時測定最多5層、15種元素。數(shù)據(jù)統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式,以滿足您特定的分析報告格式要求;如在分析報告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。統(tǒng)計功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。

CMI900/950系列X射線熒光測厚儀
Advanced Materials Analysis Instrument

CMI900/950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品;并且測量點最小可達0.025 x 0.051毫米。
CMI900系列采用開槽式樣品室,以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺供用戶選用,分別為:

  • 標準樣品臺:XY軸手動控制、Z軸自動控制。
  • 擴展型標準樣品臺:XY軸手動控制、Z軸自動控制。
  • 可調(diào)高度型標準樣品臺:XY軸手動控制、Z軸自動控制。
  • 程控樣品臺:XYZ軸自動控制。
  • 超寬程控樣品臺:XYZ軸自動控制。

CMI950系列采用開閉式樣品室,以方便測定各種形狀、各種規(guī)格的樣品。同樣,CMI950可提供四種規(guī)格的樣品臺供用戶選用,分別為:

  • 全程控樣品臺:XYZ三軸程序控制樣品臺,可接納的樣品最大高度為150mm,XY軸程控移動范圍為300mmx 300mm。此樣品臺可實現(xiàn)測定點自動編程控制。
  • Z軸程控樣品臺:XY軸手動控制,Z軸自動控制,可接納的樣品最大高度為270mm。
  • 全手動樣品臺:XYZ三軸手動控制,可接納的樣品最大高度為356mm。
  • 可擴展式樣品臺用于接納超大尺寸樣品。

CMI900/950主要技術(shù)規(guī)格如下:
 

No.

主要規(guī)格

規(guī)格描述

1

X射線激發(fā)系統(tǒng)

垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng)

空冷式微聚焦型X射線管,Be窗

標準靶材:Rh靶;任選靶材:W、Mo、Ag等

功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-標準

      75W(4-50kV,0-1.5mA)-任選

X射線管功率可編程控制

裝備有安全防射線光閘

2

濾光片程控交換系統(tǒng)

根據(jù)靶材,標準裝備有相應(yīng)的一次X射線濾光片系統(tǒng)

二次X射線濾光片:3個位置程控交換,Co、Ni、Fe、V等多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選

位置傳感器保護裝置,防止樣品碰創(chuàng)探測器窗口

3

準直器程控交換系統(tǒng)

最多可同時裝配6種規(guī)格的準直器,程序交換控制

多種規(guī)格尺寸準直器任選:

-圓形,如4、6、8、12、20 mil等

-矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等

4

測量斑點尺寸

在12.7mm聚焦距離時,最小測量斑點尺寸為:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準直器)

在12.7mm聚焦距離時,最大測量斑點尺寸為:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準直器)

5

X射線探測系統(tǒng)

封氣正比計數(shù)器

裝備有峰漂移自動校正功能的高速信號處理電路

6

樣品室

CMI900

CMI950

 

-樣品室結(jié)構(gòu)

開槽式樣品室

開閉式樣品室

-最大樣品臺尺寸

610mmx 610mm

300mmx 300mm

-XY軸程控移動范圍

標準:152.4 x 177.8mm

任選:50.8mmx 152.4mm

      50.4mm x 177.8mm

      101.6 x 177.8mm

      177.8 x 177.8mm

      610mm x 610mm

300mmx 300mm

-Z軸程控移動高度

43.18mm

XYZ程控時,152.4mm

XY軸手動時,269.2mm

-XYZ三軸控制方式

多種控制方式任選:XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制

 

-樣品觀察系統(tǒng)

高分辨、彩色、實時CCD觀察系統(tǒng),標準放大倍數(shù)為30倍。50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。

激光輔助光自動對焦功能

可變焦距控制功能和固定焦距控制功能

7

計算機系統(tǒng)配置

IBM計算機:2.8G奔騰IV處理器,256M內(nèi)存,1.44M軟驅(qū),40G硬盤,CD-ROM,鼠標,鍵盤,15寸液晶,56K調(diào)制解調(diào)器;萜栈驉燮丈噬珖娔蛴C。

8

分析應(yīng)用軟件

操作系統(tǒng):Windows2000中文平臺

中文分析軟件包:SmartLink FP軟件包

-測厚范圍

可測定厚度范圍:取決于您的具體應(yīng)用。請告訴牛津儀器您的具體應(yīng)用,我們將列表可測定的厚度范圍

-基本分析功能

無標樣檢量線測厚,可采用一點或多點標準樣品自動進行基本參數(shù)方法校正。牛津儀器將根據(jù)您的應(yīng)用提供必要的校正用標準樣品。

樣品種類:鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)

可檢測元素范圍:Ti22 – U92

可同時測定5層/15種元素/共存元素校正

組成分析時,可同時測定15種元素

多達4個樣品的光譜同時顯示和比較

元素光譜定性分析

-調(diào)整和校正功能

系統(tǒng)自動調(diào)整和校正功能:校正X射線管、探測器和電子線路的變化對分析結(jié)果的影響,自動消除系統(tǒng)漂移

譜峰計數(shù)時,峰漂移自動校正功能

譜峰死時間自動校正功能

譜峰脈沖堆積自動剔除功能

標準樣品和實測樣品間,密度校正功能

譜峰重疊剝離和峰形擬合計算

-測量自動化功能

(要求XY程控機構(gòu))

鼠標激活測量模式:“Point and Shoot”

多點自動測量模式:隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復(fù)測量模式

測量位置預(yù)覽功能

激光對焦和自動對焦功能

-樣品臺程控功能

(要求XY程控機構(gòu))

設(shè)定測量點

One or Two Datumn (reference) Points on each file

測量位置預(yù)覽(圖表顯示)

 

-統(tǒng)計計算功能

平均值、標準偏差、相對標準偏差、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動范圍、數(shù)據(jù)編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖

數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表

直方圖

數(shù)據(jù)庫存儲功能

 

-系統(tǒng)安全監(jiān)測功能

Z軸保護傳感器

樣品室門開閉傳感器

操作系統(tǒng)多級密碼操作系統(tǒng):操作員、分析員、工程師

-任選軟件

統(tǒng)計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書

液體樣品分析,如鍍液中的金屬元素含量

材料鑒別和分類檢測

材料和合金元素分析

貴金屬檢測,如Au karat評價

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